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電磁兼容性的測(cè)試方法

點(diǎn)擊次數(shù):649 更新時(shí)間:2023-04-03

EMC 設(shè)計(jì)與EMC 測(cè)試是相輔相成的。EMC設(shè)計(jì)的好壞是要通過EMC 測(cè)試來衡量的。只有在產(chǎn)品的EMC 設(shè)計(jì)和研制的全過程中,進(jìn)行EMC 的相容性預(yù)測(cè)和評(píng)估,才能及早發(fā)現(xiàn)可能存在的電磁干擾,并采取必要的抑制和防護(hù)措施,從而確保系統(tǒng)的EMC。否則,當(dāng)產(chǎn)品定型或系統(tǒng)建成后再發(fā)現(xiàn)不兼容的題,則需在人力、物力上花很大的代價(jià)去修改設(shè)計(jì)或采用補(bǔ)救的措施。然而,往往難以的解決問題,而給系統(tǒng)的使用帶來許多麻煩。

EMC 測(cè)試包括測(cè)試方法、測(cè)量儀器和試驗(yàn)場(chǎng)所,測(cè)試方法以各類標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù),測(cè)量儀器以頻域?yàn)榛A(chǔ),試驗(yàn)場(chǎng)地是進(jìn)行EMC 測(cè)試的先決條件,也是衡量EMC 工作水平的重要因素。EMC 檢測(cè)受場(chǎng)地的影響很大,尤其以電磁輻射發(fā)射、輻射接收與輻射敏感度的測(cè)試對(duì)場(chǎng)地的要求最為嚴(yán)格。目前,國內(nèi)外常用的試驗(yàn)場(chǎng)地有:開闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室和橫電磁波小室等。

作為EMC 測(cè)試的實(shí)驗(yàn)室大體有兩種類型:一種是經(jīng)過EMC 機(jī)構(gòu)審定和質(zhì)量體系認(rèn)證,而且具有法定測(cè)試資格的綜合性設(shè)計(jì)與測(cè)試實(shí)驗(yàn)室?;蚍Q檢測(cè)中心。它包括進(jìn)行傳導(dǎo)干擾、傳導(dǎo)敏感度及靜電放電敏感度測(cè)試的屏蔽室,進(jìn)行輻射敏感度測(cè)試的消聲屏蔽室,用來進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試的開闊場(chǎng)地和配備齊全的測(cè)試與控制儀器設(shè)備。要建立這樣一套完善的實(shí)驗(yàn)室需投入幾百萬甚至數(shù)千萬元人民幣。目前,國內(nèi)已有數(shù)家已建成或正在投資興建。

另一種類型就是根據(jù)本單位的實(shí)際需要和經(jīng)費(fèi)情況而建立的具有一定測(cè)試功能的EMC實(shí)驗(yàn)室。比起大型的綜合實(shí)驗(yàn)室,這類測(cè)試實(shí)驗(yàn)室規(guī)模小,造價(jià)低。主要適用于預(yù)相容測(cè)試和EMC 評(píng)估。也就是為了使產(chǎn)品在最后進(jìn)行EMC 認(rèn)證之前,具有自測(cè)試和評(píng)估的手段。如有不足,還可以充分利用社會(huì)成果,內(nèi)外合作,進(jìn)行相互比對(duì)和交流,以達(dá)節(jié)約開支,改進(jìn)設(shè)計(jì),不斷提高產(chǎn)品的EMC 之目的。

在測(cè)試儀器方面,以頻譜分析儀為核心的自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),可以快捷、準(zhǔn)確地提供EMC 有關(guān)參數(shù)。新型的EMC 掃描儀與頻譜儀相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了電磁輻射的可視化??蓪?duì)系統(tǒng)的單個(gè)元器件,PCB 板、整機(jī)與電纜等進(jìn)行三維測(cè)試,顯示真實(shí)的電磁輻射狀況。

EMC 測(cè)試必須依據(jù)EMC 標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范給出的測(cè)試方法進(jìn)行,并以標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的極限值作為判據(jù)。對(duì)于預(yù)相容測(cè)試,盡管不可能保證產(chǎn)品通過所有項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,但至少可以消除絕大部分的電磁干擾,從而提高產(chǎn)品的可信度。而且能夠指出你如何改進(jìn)設(shè)計(jì)、抑制EMI 發(fā)射。



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