Ux-2900能量色散型X射線熒光分析儀專業(yè)級通過中國電子信息標(biāo)準(zhǔn)化研究院（國標(biāo)起草和制定單位）的嚴(yán)格測評，獲得GB/T33352-2016專業(yè)級證書。用于RoHS/ELV管控的有害元素鉛（Pb），汞（Hg），鎘（Cd），鉻（Cr），溴（Br）和氯（Cl）的檢測，在電子電器、汽車、醫(yī)療和包裝等行業(yè)有著非常廣泛的應(yīng)用。

產(chǎn)品詳情

Ux-2900能量色散型X射線熒光分析儀專業(yè)級物料異常警示

*的譜圖對比功能，迅速識別同種物料是否發(fā)生材質(zhì)（元素成分）變化。

若未發(fā)生變化，可以判斷物料成分與之前精測結(jié)果一致，即可快速通過。

若有變化，可做精確測量并及時通知客戶物料發(fā)生變化，防止材料改變給產(chǎn)品質(zhì)量造成影響。

Ux-2900能量色散型X射線熒光分析儀專業(yè)級內(nèi)置工作曲線

標(biāo)準(zhǔn)配置應(yīng)對RoHS法規(guī)的鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、總鉻（Cr）、總溴（Br）和總氯（Cl）六個元素的工作曲線。例如塑膠材料中聚乙烯（PE ）、聚氯乙烯（PVC）和工程塑料（ABS）的工作曲線，還包括金屬材料中銅合金（Cu ）、鋁合金（Al ）、鐵合金（Fe ）和錫基合金（Sn ）的工作曲線。全面涵蓋了電子電氣行業(yè)的主要測試需求。

★ 塑膠中銻元素工作曲線(選購)

★ 塑膠中錫元素工作曲線(選購)。

開放式工作曲線

符合國標(biāo)要求(GB/T 3352-2016),如果有特殊需求，使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制作工作曲線，應(yīng)對其他樣品的測試。測試條件同樣開放,用于設(shè)置對應(yīng)樣品的測試需求。

技術(shù)參數(shù)

★ 型號：Ux-2900

★ 測試元素范圍：鋁（Al）~鈾（U）

★ 符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 33352-2016專業(yè)級認(rèn)證

★ 測試樣品種類：固體、膠體溶液及粉末等

★ 整機(jī)分辨率：130±5eV（MnKα）

★ 準(zhǔn)直器：Ф10mm和Ф3mm

★ 探測器：Fast SDD

★ 濾光片：5個濾光片（含一個空位）

★ 儀器尺寸：520mm(W)*400mm(D)*355mm(H)

★ 樣品室尺寸：420mm(W) *320mm(D)*65mm(H)

★ 工作環(huán)境：溫度15-30℃

★ 工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結(jié)露）

★ 輸入電源：AC220V~240V，50/60Hz

★ 額定功率：250W

★ 重量：約37kg

儀器安裝及使用注意事項

1.儀器到位前請接左圖保障儀器使用空間；

2.使用環(huán)境要求無強(qiáng)電磁干擾，無腐蝕性氣體；

3.使用溫度變化不超過 5℃／小時，濕度保障不結(jié)露；

4.儀器需要可靠的獨(dú)立接地，對地電阻至≤4Ω；

5.測試小物品時請使用樣品杯裝置或用麥拉膜封住測試孔，對于樣品室進(jìn)行定期清除，清除時先用膠帶把測試孔封住，以保證無異物掉入儀器內(nèi)部損壞儀器；

6.本儀器為輻射裝置，切勿通電打開機(jī)箱；

7.儀器出現(xiàn)故障請及時通知廠家，切勿自行維修造成維保損失；

附：XRF光譜儀的性能評價項目及指標(biāo)要求

精密度標(biāo)準(zhǔn)	GB/T33352-2016 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)篩選用 XRF光譜儀性能要求
1、XRF光譜儀的性能要求 XRF光譜儀的性能評價項目及指標(biāo)要求中精密度要求（專業(yè)級）
聚合物材料	3σ（Pb）≤限值×2.2%（22mg/kg）； 3σ (Hg) ≤限值×2.2%（22mg/kg）；3σ (Cr) ≤限值×2.2%（22mg/kg）； 3σ (Cd) ≤限值×10%(10mg/kg)；3σ (Br) ≤限值×5%(15mg/kg)。
2、XRF光譜儀性能評價
精密度指標(biāo)測試選用限用物質(zhì)含量為GB/T 26572-2011中限值要求±15%范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（包括聚合物材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)和金屬材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)），使用儀器廠商推薦的測試條件，空氣光路，設(shè)置單次測試的話時間分別為聚合物材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)不超過100S，金屬材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)不超過300S，在樣品同一部位連續(xù)7次測量鉛（Pb）、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br) 含量，計算出各自的標(biāo)準(zhǔn)偏差σ。精密度為σ的3倍。

儀器的檢出限	GB/T33352-2016 電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)篩選用 XRF光譜儀性能要求
1、XRF光譜儀的性能要求 XRF光譜儀的性能評價項目及指標(biāo)要求中檢出限的要求（專業(yè)級）
聚合物材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中的各限用物質(zhì)LOD≤限值×2.5%	(Pb)≤限值×2.5%（25mg/kg）； (Cd) ≤限值×2.5%（25mg/kg）；(Hg) ≤限值×2.5%（25mg/kg）； (Cr) ≤限值×2.5%（25mg/kg）；(Br) ≤限值×2.5%（7.5mg/kg）。
金屬材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)中的各限用物質(zhì)LOD≤限值×10%	(Pb) ≤限值×10%（100mg/kg）；(Hg) ≤限值×10%（100mg/kg）；(Cd) ≤限值×10%（100mg/kg）； (Cr) ≤限值×10%（100mg/kg）。
2、XRF光譜儀性能評價方法
檢出限指標(biāo)測試選取空白物質(zhì)（包括聚合物材料空白物質(zhì)和金屬材料空白物質(zhì)），使用儀器廠商推薦的測試條件，設(shè)置單次測試的話時間分別為聚合物材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)不超過100S，金屬材料標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)不超過300S，在樣品同一部位連續(xù)7次測量鉛（Pb）、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br) 含量，計算出各自的檢出限。LOD=3σ。